MIV-X

Produk / Shimadzu Non Destructive Testing / SHIMADZU MAIVIS Ultrasonic Optical Flaw Detector / MIV-X

Shimadzu Non Destructive Testing

Fluoroscopic System CT System Xdimensus SHIMADZU MAIVIS Ultrasonic Optical Flaw Detector

SHIMADZU MIV-X

Buat Itu Terlihat!
Memvisualisasikan Retakan, Kekosongan, Pengelupasan, dan Cacat Tersembunyi Lainnya Biasanya Tidak Mungkin Diperiksa Secara Visual

Siapapun Dapat Melakukan Inspeksi Permukaan Visual Dengan Cepat dan Mudah


MIV-X
Berkat teknik imajinasi cahaya milik Shimadzu, yang menggabungkan osilator ultrasonik dengan stroboskop, cacat di dekat permukaan bahan, termasuk pengelupasan permukaan ikatan dan perekat bahan heterogen, serta cat, semprotan termal, dan pelapis dapat diperiksa. dengan mudah dan tidak merusak.

Memungkinkan inspeksi sesuai dengan ukuran objek
Cukup pasang osilator ultrasonik ke sampel, dan posisikan kamera di atas permukaan inspeksi.
Penyebaran ultrasound dengan cepat ditampilkan, dan kekurangannya mudah diidentifikasi dari video.
Perangkat lunak yang mudah dioperasikan ditingkatkan dengan fungsi untuk menandai kekurangan dan mengukur ukurannya dengan mudah.
Jajarannya mencakup set zoom optik opsional, yang dapat mendeteksi kekurangan yang lebih kecil.

No Descriptions
           
  SHIMADZU MAIVIS Ultrasonic Optical Flaw Detector  
  Model : MIV-X    
           
  Specifications :        
  Use : Detection of defects such as voids and cracks near the surface of a sample and peeling of joining area of multimaterial  
  Inspectable material : Metal, Ceramics, Composite, Dissimilar joint, Multi-material, etc.  
  Camera distance : 250 to 1000 mm  
  Inspection area / Curvature radius : Approx.100×150 mm / R150 mm  （Camera distance 250 mm）
Approx.200×300 mm / R300 mm (Camera distance 500 mm）
Approx.400×600 mm / R600 mm (Camera distance 1000 mm）		  
  Minimum detection size : Approx. 1/100 of inspection area (depends on sample and inspection condition)
Camera distance 250 mm → Minimum detect size is approx. φ1 mm.		  
  Inspection time : Approx. 25 seconds or less (Observation + Analysis, except condition setting time）  
  Frequency : 20 kHz to 400 kHz  
  Laser safety (Class) : IEC60825-1 Class 1, FDA 21 CFR Part 1040.10 Class 1, JIS C6802 Class 1  
  Standard function : - Frequency scan, analysis area speci cation, marking, dimension display, defect rate calculation,
- Multi- condition compound analysis, Noise remove, Background wave  lter,
- Inspection condition automatic search, Data storage / output		  
  Power requirements : Single phase 100 to 230 V, 250 VA    
      Power connection port on the Control unit : IEC60320-C13  
  Operating temperature : +10 to +30 ℃    
  Dimensions / Weight : Camera unit: 180 mm (W) × 170 mm (D) × 88 mm (H); approximately 2.7 kg
Control unit: 165 mm (W) × 390 mm (D) × 406 mm (H); approximately 12 kg
Oscillator: 60 mm (Dia.) × 60 mm (H); approximately 0.9 kg